日本三豐白光干涉單元 554-003 554-001
日期：2024-08-13 人氣：2447 收藏
主要特點
利用白光干涉的非接觸式高精度精細表面紋理測量→3D形狀測量、3D粗糙度測量
高度測量精度與光學放大倍率無關
即使使用低倍率鏡頭也可進行高 Z 分辨率測量
高縱橫比測量
支持高縱橫比形狀測量，檢測不依賴于光學系統(tǒng)的數(shù)值孔徑
抗干擾振動的高魯棒性
小巧輕便
554-001
WLI-unit-003
554-002
WLI-unit-005
554-003
WLI-unit-010
